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陶瓷電容失效原因分析

作者:大海 來源: 日期:2014-5-4 15:22:54 人氣: 標(biāo)簽:電容

  導(dǎo)致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機(jī)或無機(jī)污染,燒結(jié)過程控制不當(dāng)?shù)?斩吹漠a(chǎn)生極易導(dǎo)致漏電,而漏電又導(dǎo)致器件內(nèi)部局部發(fā)熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能從而導(dǎo)致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒等嚴(yán)重后果。

  多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達(dá)1000℃以上。層間結(jié)合力不強(qiáng),燒結(jié)過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。分層和空洞、裂紋的危害相仿,為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。

  多層陶瓷電容器的特點(diǎn)是能夠承受較大的壓應(yīng)力,但抵抗彎曲能力比較差。器件組裝過程中任何可能產(chǎn)生彎曲變形的操作都可能導(dǎo)致器件開裂。常見應(yīng)力源有:貼片對(duì)中,工藝過程中電板操作;流轉(zhuǎn)過程中的人、設(shè)備、重力等因素;通孔元器件插入;電測試、單板分割;電板安裝;電板定位鉚接;螺絲安裝等。該類裂紋一般起源于器件上下金屬化端,沿45℃角向器件內(nèi)部擴(kuò)展。該類缺陷也是實(shí)際發(fā)生最多的一種類型缺陷。

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